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仪器设备基本信息

仪器设备详细指标
主要技术指标

压片法测量范围: ppm-100%, 溶样法:10ppm-100%

功能/应用范围 可以对元素定性和定量分析
服务领域
技术特色 X荧光光谱仪是通过发射X射线激发样品元素特征X荧光,并用探测器探测元素特征X荧光的强度实现对样品元素定性和定量分析的仪器
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联系电话 029-62336272